Etude de la fiabilité transistor MOSFT
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Date
2023-10-04
Authors
Journal Title
Journal ISSN
Volume Title
Publisher
FGEI.UMMTO
Abstract
Ce mémoire propose étude de fiabilité transistor MOSFET, on a explore en profondeur les concepts fondamentaux de fiabilité et de défaillance dans des systèmes, en mettant particulièrement l’accent sur le taux de défiance précoce ou de jeunesse les comment le transistor MOSFET évolué avec le temps. Les différents types de transistors MOSFET et leurs caractéristiques distinctives et leurs applications spécifiques.
Nous analysons leurs conditions de conduction.
L’analyse approfondie de la fiabilité des transistors.
L’oxyde des silicium garantir la fiabilité et la performance des transistors
Description
32p .; ill .; 30cm . (CD-ROM)
Keywords
Transistor, MOSFET, NBTL, PBTI, SIO_2, SI, MTBF, Transistor bipolaire MOSFT
Citation
Instrumentation Biomedicale